Spektroskopia odbiciowa światła białego no nowoczesna technika wyznaczania grubości cienkich warstw z dokładnością do dziesiątych części nm. W ramach ćwiczenia studenci zapoznają się z podstawami teoretycznymi oraz wykonują pomiary testowych warstw półprzewodników za pomocą spektrometru FR-Education firmy Thetametrisis. W drugiej części ćwiczenia dokonują pomiaru zmiany grubości warstw polimerów w funkcji wilgotności.
- Opiekun ćwiczenia: prof. dr hab. Jakub Rysz
- Opis ćwiczenia i wymagania - ćwiczenie IM21 dla ZMiN