Badanie powierzchni materiałów za pomocą skaningowej mikroskopii sił atomowych / Study of the surface structure of organic and inorganic materials by means of atomic force scanning microscopy (AFM)

 

Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z techniką obrazowania powierzchni za pomocą skaningowego mikroskopu sił atomowych (AFM).  Plan Ćwiczenia zakłada zapoznanie z budową mikroskopu AFM oraz podstawą obsługi, jak również samodzielne wykonanie obrazów wybranych powierzchni (powierzchnie kryształów, polimerów, struktur biologicznych np. komórki). Obrazy powierzchni  wykonywane są zarówno w trybie kontaktowym jak i bezkontaktowym. Ważnym aspektem wykonywanego ćwiczenia jest zaznajomienie się z technikami analizy obrazów w tym min. umiejętność wykonywania profili powierzchni z podaniem realnych rozmiarów obserwowanych struktur.

Ćwiczenie stanowi wstęp do ćwiczeń dotyczących metod AFM prowadzonych w ramach pracowni specjalistycznych, w szczególności Pracowni Specjalistycznej na kierunku Biofizyka.

Atomic force microscopy (AFM) provides a precise topographical information about surfaces of both conductive and non-conductive materials. The AFM operates by scanning the surface with a sharp probe, which is mounted on a flexible cantilever. Deflection of the cantilever during scanning is sensed using a laser beam and a multi-element photodetector and, successively converted into a three-dimensional image of the examined surface. The aim of the AFM laboratory course is to demonstrate the surface imaging technique using the atomic force scanning microscope (AFM). In particular, students will get familiar with the construction and principle of operation of the AFM microscope. The laboratory experiment will make use of a low resolution AFM from Nanosurf and will be focused on investigation of topographic features of selected surfaces (surfaces of crystals, polymers, biological structures, e.g. cells) at a micron length-scale. An important aspect of the exercise is the training in image analysis techniques.